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菲希爾XDLM-pcb200 來(lái)自德國(guó)菲希爾Fischer的XDLM-PCB測(cè)量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級(jí)、耐用型測(cè)量?jī)x。用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測(cè)量?jī)x器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅(jiān)固耐用的入門級(jí)儀器。
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德國(guó)fischer膜厚儀 X射線熒光測(cè)厚儀 XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線,也可以測(cè)量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量,20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。
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DualScope MP0測(cè)厚儀- 菲希爾 DualScope MP0測(cè)厚儀,袖珍測(cè)厚儀中的產(chǎn)品,也是應(yīng)用Z廣泛,性價(jià)比較高的一款小型儀器,篤摯儀器為菲希爾正式授權(quán)的專業(yè)經(jīng)銷商,證書齊全,貨源穩(wěn)定,正規(guī)渠道拿貨
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
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菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
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Fischer XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測(cè)量空間寬大,可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線路板等大平面樣品。測(cè)量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái),因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面