FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀

• 更新時間：2019-12-19
• 瀏覽次數：1137

FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀
。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。

訂購留言

分享到：

FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發展出創新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確度，精度和可靠性的要求。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時, XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側面有開口(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測星形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內自由選擇,這樣就可以測星腔體內部或表面不平整的物體(DCM方法)。

X熒光鍍層厚度檢測儀的應用范圍 :1、分析電子部品電鍍層的厚度 
　　                       2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析    
                           3、各鍍層的成分比例分析。

●單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
●二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
●三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 
●雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
●雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 
●多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。 
●分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 
●分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。

X熒光電鍍厚度檢測儀設計特點：
☆ 單、雙及三層鍍層系統
☆ 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
☆ 雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
☆ 能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量
☆ 可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇
☆ 完整的統計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估
☆ 報告生成，數據輸出
☆ 語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
☆菜單中的某些選擇項可授權使用
注：基礎WinFTM軟件版本不允許創建新的應用，所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，可在交貨前預先創建應用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
☆ 可隨意創建測量應用
☆ 可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度
☆ 快速的頻譜分析以決定合金成分 
 

篤摯儀器供應測量儀器，這些產品均由高品質的原材料和良好的技術制造，*，符合質量標準。我們經驗豐富的質量控制團隊對儀器提供的測試范圍進行了各種參數的測試。我們的產品系列因其高性能，高效率，增強的耐用性和成本效益而贏得了客戶的*好評。*，歡迎電詢!