CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀3D表面測量

• 更新時間：2021-04-13
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CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀3D表面測量
我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析

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CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀3D表面測量

無論測量的是何種元件，無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。CCI MP-HS很大地擴展了分析能力，同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面，不需要進行復雜的測量模式切換，也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和報告，CCI MP-HS可輕松地整合到您的質量管理系統(tǒng)中。正是與研究人員和科學家的密切配合，使得CCI MP-HS可隨時滿足各領域非常苛刻的測量要求。通過擴大可測量的元件范圍，良好的拼接技術大大增加的本產品的附加值。

儀器特點

。高速攝像頭, 掃描速度高達100微米/秒。 在高速測量時可減少丟失點、降低環(huán)境的影響， 保證測量結果的準確性。
。改進拼接功能， 在大面積拼接測量中顯著縮短測量時間。 無需增加額外費用， 就可檢測更多部件、檢測更完整和更詳細， 很大地提高成本效益。
。單一掃描模式， 全新的測量概念。 具有**的“相干相關”算法能夠在任意掃描范圍內實現亞埃級分辨率， 處于任一生產階段的所有表面均可使用相同的測量技術在同一儀器上進行測量和比較。
。內置平臺整合了ISO標準中對三維形貌定義的所有結果， 是一臺可用于標定的計量儀器。

節(jié)能減排：

。檢測速度的加快節(jié)約了測量時間， 提高了對設備和操作員的利用率。
。堅固耐用的設計節(jié)省了昂貴的維修費用。
。使作的簡便性可減少操作員的培訓成本。
 。主機耗電僅有250W， 在同類產品中耗電*低。

高速測量而無需妥協(xié)

       。掃描速度高達100微米/秒，而不會損失數據質量
       。1024 x 1024像素陣列，具有高分辨率的大視野
       。2.2毫米垂直范圍，帶閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀
       。AutoStitch作為標準配置，可在高分辨率下測量較大的像素
 

提高數據質量

       。在整個測量范圍內的分辨率為0.1埃
       。<0.2Åstrom RMS重復性，<0.1％臺階高度重復性
       。集成的防振功能，可實現*佳噪聲性能
       。新型Claritas 20照明系統(tǒng)，角度靈敏度更高，可提高數據質量